在初步檢查時(shí)，可以通過以下步驟進(jìn)行評(píng)估：

• 讓寶寶站立，從足踝的前方和后方觀察，檢查后足和前足的整體力線關(guān)系。
• 注意負(fù)重狀態(tài)下足縱弓的形態(tài)變化。某些情況下，足部結(jié)構(gòu)在坐位時(shí)可能表現(xiàn)正常，但在負(fù)重受力后出現(xiàn)明顯變化。這種情況常見于過度松弛性平足畸形、柔軟性足趾畸形以及跖趾關(guān)節(jié)過度松弛的患者。
• 從后方觀察時(shí)，可能會(huì)發(fā)現(xiàn)后足外翻以及因前足外展而出現(xiàn)的“多趾癥”。
• 通過單側(cè)或雙側(cè)提踵試驗(yàn)，觀察后足的內(nèi)翻活動(dòng)。如果無法完成單側(cè)提踵或缺少后足的對(duì)稱性內(nèi)翻，可能提示存在脛后肌腱疾病。

此外，輔助檢查可以通過X線片進(jìn)行。在負(fù)重條件下拍攝足部正側(cè)位X線片，測(cè)量足弓的角度變化。

確診扁平足需要結(jié)合以下幾個(gè)方面：

• 病史：包括先天性足骨排列異常或足部創(chuàng)傷、超限負(fù)荷、足部肌肉韌帶軟弱等病史。
• 臨床表現(xiàn)：足部縱弓塌陷，足底扁平，足跟外翻，行走或久站時(shí)容易感到疲乏、疼痛和壓痛。
• 足印檢查：通過足印分析，確認(rèn)足弓的缺損區(qū)，并確定扁平足的類型及程度。
• X線檢查：顯示足縱弓塌陷，跗跖骨軸線關(guān)系改變。

足印分析是一種簡(jiǎn)單、快速且經(jīng)濟(jì)的測(cè)量方法，廣泛用于評(píng)價(jià)足弓高度和跟骨外翻程度：

• 通過足印圖分類，間接診斷扁平足。
• 正常人的足弓高度為14mm-18mm，低于14mm為扁平足，高于18mm為高弓足。

扁平足在兒童中較為常見，隨著年齡增長(zhǎng)和足部肌肉的發(fā)育，多數(shù)兒童的扁平足會(huì)自然改善。然而，嚴(yán)重的扁平足可能影響正常行走功能，甚至引發(fā)其他足部問題。因此，早期評(píng)估和診斷尤為重要。